Tektronix DSA8200光示波器

Tektronix DSA8200光示波器

产品分类:光纤通讯领域仪器设备

本站价格:¥0.00


功能概述:

DSA8200是泰克公司提供的70 GHz,2通道数字示波器。
随时间测量电子电路或组件中的电压或电流信号,以显示幅度,频率和上升时间等。
应用包括故障排除,生产测试和设计。

产品详情

附加的功能:

  • 最先进的采样示波器,用于通信信号分析,TDR / TDT /串行数据网络分析,重复超快信号的采集和测量
  • 扩频时钟(SSC)信号的采集
  • 业界唯一的主机,最多支持8个输入通道,以提高灵活性和吞吐量
  • 四个颜色分级的可变余辉波形数据库
  • 具有100多种自动测量的测量系统
  • 完整的通信测量套件包括两种类型的OMA,SSC配置文件以及许多其他类型
  • 自动化的ITU / ANSI / IEEE掩码测试
  • 内置SONET / SDH,FC,以太网和其他标准的掩码和测量
  • 可以从工厂提供的文件中加载掩码更新
  • 掩模余量测试,用于防护带生产测试
  • 业界最佳的标准时基抖动性能,800 fsRMS
  • 相位基准模块提供业界领先的时基抖动性能,<200 fsRMS
  • 快速采集速率和高吞吐量
  • 远程采样器可将其放置在DUT附近以实现出色的信号保真度
  • 具有眼图平均的FrameScan采集模式:
  • 隔离与数据相关的故障
  • 检查低功率信号
  • MS Windows XP操作系统
  • 与第三方软件的高级连接

采集模块

  • 完全集成的多速率光模块
  • 高达80 GHz的光模块80C10B
  • 某些模块提供高精度的“ ER校准”测量
  • 电气模块,带宽高达70+ GHz,测量上升时间为5 ps(10-90%)
  • 灵活的速率时钟恢复
  • 提供具有SSC(扩频时钟)支持的时钟恢复

抖动,噪声,BER和串行数据链路分析

  • 测量并分离确定性数据相关抖动与随机抖动
  • 测量垂直噪声,将确定性数据相关噪声与随机噪声分开
  • 高精度BER和眼图轮廓估计,支持DDPWS
  • FFE / DFE均衡,发射机均衡
  • 损耗大于30 dB的通道的通道仿真
  • 用于夹具去嵌入的线性滤波器,线性滤波

TDR(时域反射仪)

  • 高达50 GHz的TDR带宽,反射上升时间为15 ps,入射上升时间为12 ps
  • 最低噪声,可实现精确的可重复TDR测量结果– 50 GHz时为600 µVRMS
  • 独立的采样器相差校正可确保轻松固定和探头去嵌入
  • 业界唯一的主机,最多可容纳四个真差分TDR或电气通道对,以提高系统多功能性

S参数测量

  • 高达50 GHz的差分,单端,混合模式;插入损耗,回波损耗,频域串扰,模式转换
  • PCI Express,串行ATA,Infiniband,千兆以太网制造以及针对千兆位信号路径和互连的标准一致性测试-包括眼罩测试
  • 直观,简单,准确的串行数据,千兆位数字设计和信号完整性
  • 带有命令行界面的快速准确的自动化多端口S参数测量

应用领域

  • 电信和数据通信组件与系统的设计/验证
  • 符合ITU / ANSI / IEEE / SONET / SDH的制造/测试
  • 高性能真差TDR测量
  • 先进的抖动,噪声和BER分析
  • 包含S参数的串行数据应用的阻抗表征和网络分析
  • 基于通道和眼图仿真和测量的SPICE建模

卓越的性能和非凡的多功能性

为了开发当今的高速串行设备,DSA8200数字串行分析仪采样示波器是用于通信,计算机和消费类电子产品的千兆位发射机和信号路径表征以及一致性验证的最通用的工具。该单元具有卓越的带宽,信号保真度和最可扩展的模块化架构,可为当前和新兴的串行数据技术提供最高性能的TDR和互连分析,最准确的信号损伤分析以及BER计算。该单元提供了无与伦比的测量系统保真度和超低抖动底限,可确保最准确地采集高速信号。使用相位参考模块,可以从200 fs的采集抖动中获得高级分析优势。在采样示波器的又一个新步骤中,借助相位参考模块,示波器可以获取和测量SSC(扩频时钟)信号。多处理器架构具有专用的每插槽数字信号处理器(DSP),可提供快速的波形采集速率,从而减少了可靠表征和一致性验证所需的测试时间。该设备的通用模块化体系结构支持大量不断增长的插件系列,使您可以使用各种电气,光学和附件模块来配置您的测量系统,这些模块现在和将来都最适合您的应用。该单元具有6个模块插槽,可同时容纳时钟恢复模块,精密相位参考模块以及多个电或光采集模块,因此您可以将系统性能与不断变化的需求相匹配。电气模块系列具有行业领先的信号保真度,其带宽性能从12 GHz到70+ GHz。两个带远程采样器的真差分时域反射仪(TDR)模块提供高达50 GHz的带宽,15 ps的反射上升时间和12 ps的入射上升时间。低噪声可变带宽电子模块系列通过远程采样器提供业界最佳的噪声性能,在60 GHz时具有450μVRMS噪声,在30 GHz时具有300μVRMS。光模块提供完整的光测试解决方案,具有从125 Mb / s到43 Gb / s甚至更高的系统保真度。该模块涵盖单模和多模光纤的一系列波长。每个模块可以可选地配置有多个可选的光学参考接收器(ORR)滤波器和/或全带宽路径。80C07B,80C08C和80C11可以配置许多可用的集成时钟恢复选项。80C12和80C14多速率模块时钟恢复支持可通过电气输出与80A05模块或CR175A / CR125A仪器配合使用来实现。该单元流行的FrameScan™采集模式可与DUT,BERT和其他来源的码型配合使用,以隔离发射机中码型相关的效应,或显示违反模板的位序列。FrameScan自动对时基进行排序,以便按时间顺序获取数据流的每个位。当与设备的面罩测试条件采集功能结合使用时,例如击中遮罩后停止,FrameScan可以自动识别与模式相关的故障发生在哪位。此外,支持各种功能的专用模块,例如单端和差分电时钟恢复,TDR的静电保护以及与流行的TekConnect探测系统的连接性,可为您提供泰克用于高阻抗的最新探头的性能和差分探测。还提供用于50Ω探测和TDR探测的低阻抗探头。与流行的TekConnect探测系统的连接为您提供了Tektronix用于高阻抗和差分探测的最新探头的性能。还提供用于50Ω探测和TDR探测的低阻抗探头。与流行的TekConnect探测系统的连接为您提供了Tektronix用于高阻抗和差分探测的最新探头的性能。还提供用于50Ω探测和TDR探测的低阻抗探头。

抖动,噪声,BER和串行数据链路分析

High-speed serial data link measurements and analysis are supported with three software solutions: 80SJARB, 80SJNB Essentials, and 80SJNB Advanced. 80SJARB is a basic jitter measurement tool capable of measuring jitter on any waveform – random or repetitive. The simplicity of acquisition limits the amount of analysis possible so only the simplest decomposition can be used; repeatability is pattern dependent. 80SJNB Essentials offers a complete analysis of jitter, noise, and BER, with decomposition of components for clear understanding of a signal’s problems and margins. The acquisition methodology requires a repetitive pattern. Both accuracy and repeatability are improved relative to 80SJARB since the tool has access to the complete signal pattern. 80SJNB Advanced adds features to 80SJNB Essentials for Serial Data Link Analysis – de-embedding of a fixture, channel emulation, FFE/DFE equalization, pre-emphasis/de-emphasis.

TDR(时域反射仪)

示波器是业界性能最高的全集成时域反射仪(TDR)测量系统。提供高达50 GHz带宽的真差分TDR测量,反射上升时间为15 ps,入射上升时间为12 ps,您可以跟上当今最苛刻的串行数据网络分析(SDNA)要求。

80E10和80E08 TDR模块具有完全集成的独立双通道2米远程采样器系统,以最大程度地减少固定并确保最佳的系统保真度。独立的采样器去歪斜确保快速,轻松地固定和探头去嵌入。用户可以通过使用来自差分模块的TDR步骤来驱动一对线对,同时使用第二个差分模块监视第二对线对来表征差分串扰。

该单元是业界用途最广泛的TDR测量系统,最多可容纳4个双通道真差分TDR模块,以进行快速,准确的多通道阻抗和S参数表征。P80318真差分TDR探头和P8018单端无源手持式TDR探头为电路板阻抗和电信号表征提供了高性能的探测解决方案。P80318是一种18 GHz 100Ω输入阻抗差分TDR手持式探头,可实现差分传输线的高保真阻抗测量。可调探头间距可实现多种差分线间距和阻抗。P8018是20 GHz单端无源手持式TDR探头。

串行数据网络分析(SDNA)

随着数字电路的时钟速度和上升时间的增加,互连信号的完整性会极大地影响数字系统的性能。在时域和频域中,对信号路径和互连进行准确,高效的串行数据网络分析(SDNA)对于预测信号损耗,抖动,串扰,端接和振铃,数字误码以及眼图退化,确保系统可靠运行至关重要。泰克提供了几种真差分TDR模块,这些模块与IConnect®软件结合使用,可以在高达–70 dB的动态范围内测量S参数。这种性能可确保在串行数据分析,数字设计,信号完整性和电气一致性测试应用中进行准确,可重复的测量。

凭借长记录长度的采集,IConnect®在执行S参数测量时为获得所需的频率范围和频率阶跃提供了极大的灵活性。最多可以获取1,000,000点* 2。当将IConnect®Signal Integrity TDR和S参数软件与示波器一起使用时,您将获得一个高效,易用且经济高效的解决方案,用于基于千兆位互连链路和设备的基于测量的性能评估,包括信号完整性分析,阻抗,S参数和眼图测试以及故障隔离。IConnect可以帮助您在几分钟(而不是几天)内完成互连分析任务,从而缩短了系统设计时间并降低了设计成本。IConnect还支持许多串行数据标准所要求的阻抗,S参数和眼图一致性测试,

故障分析–快速识别故障位置80E10具有12 ps的典型TDR上升时间,可提供卓越的分辨率,从而在封装,电路板和片上故障分析应用中实现最快和最有效的故障隔离。

高级通信信号分析

该单元是专为超高性能光学和电气串行数据应用而设计的,是进行设计表征和验证以及数据通信和电信组件,收发器子组件和传输系统的制造测试的理想工具。设备会生成测量结果,不仅是原始数据,还包括时间和幅度直方图,模板测试以及统计测量结果。它提供了针对通信量身定制的测量集,包括抖动,噪声,占空比,过冲,下冲,OMA,消光比,Q因子,平均光功率和幅度。此外,您可以进行SONET / SDH,100 Gigabit(4×25),10 Gigabit,Gigabit Ethernet和其他电气和光学标准符合性验证的模板测试。波形数据的颜色分级和强度分级为信号采集和分析增加了三维,即样本密度,从而提供了直观的见解。此外,可变持久性数据库功能可对所有功能进行精确的数据老化,并便于在调整中的DUT上进行眼图测量。

扩展测量系统的工具

示波器提供了一个开放的Windows环境,可使用您最喜欢的市售第三方软件包在仪器上提供新级别的数据分析。此外,标准软件附件TekVISA™允许将仪器置于仪器或外部PC工作站上运行的软件应用程序(例如LabVIEW,LabWindows,Visual Basic,Microsoft Excel,C等)的控制之下。无需GPIB硬件接口即可将网络连接到仪器。还提供了用于LabVIEW和其他程序的即插即用驱动程序。该单元结合了Microsoft Windows XP操作系统的熟悉程度和世界一流的波形采集技术。该平台提供了广泛的标准仪器和通信接口,包括GPIB,并行打印机端口,RS-232-C,USB串行端口和以太网LAN连接。此外,该平台还包括DVD-CD / RW组合驱动器和可移动硬盘驱动器,用于存储波形,设置和分析结果。

155 Mb / s至14+ Gb / s光学测试

泰克光学模块提供了业界最高水平的集成,并具有相应更高的可重复性和结果可传递性。现在,一种特别对方法敏感的测量方法,即消光比(ER)也可以作为ER校准产品使用,它对结果的可移植性进行了额外的改进(仅适用于80C08C,80C11和80C14模块)。

80C14 14 GHz宽波长多速率14 Gb / s光模块

新型80C14是一种宽波长(700至1650 nm)的多速率光学采样模块,支持10 Gb / s的应用,包括数据通信和电信。受支持的数据通信应用包括9.95、10.31、11.09 Gb / s的10GbE和8G光纤通道,10G光纤通道,8.5、10.51、11.3、14.025 Gb / s的16G光纤通道应用。80C14还提供9.95、10.66、10.70和12.5 Gb / s的电信速率测试。还支持14.063 Gb / s的14G Infiniband FDR。凭借其放大的O / E设计,80C14具有出色的信噪比性能和高光学灵敏度,从而使用户能够检查低功率光学信号。80C14的时钟恢复由CR175A或CR286A时钟恢复仪器(另售)提供。

80C08C 10 GHz宽波长多速率10 Gb / s光模块

80C08C是一种宽波长(700至1650 nm)的多速率光学采样模块,可为9.95、10.31、11.09 Gb / s的10GbE应用和10.51 Gb / s的10G光纤通道应用提供数据通信速率测试。80C08C还通过9.95至11.3 Gb / s之间的多个滤波器提供电信速率测试。凭借其放大的O / E设计,该模块提供了出色的信噪比性能和高光学灵敏度,从而使用户可以检查低功率水平的光学信号。80C08C可以选择配置集成时钟恢复选件,这些选件可以在9.8到12.6 Gb / s的连续范围内支持任何标准或用户定义的速率。

80C12高达10 GHz宽波长多速率1 Gb / s至10 Gb / s光学模块

80C012是一种宽波长(700至1650 nm)的多速率光学采样模块,可提供1G,2G和4G电信和数据通信测试。该高度灵活的模块可以配置为支持较低数据速率的应用程序(1到4 Gb / s)或各种各样的10 Gb / s应用程序。低数据速率应用包括1、2和4光纤通道以及“ by 4”波分复用标准,例如10GBase-X4和4通道10 Gb / s光纤通道。受支持的10 Gb / s应用程序包括数据通信和电信。受支持的10 Gb / s数据通信应用包括9.95、10.31、11.09 Gb / s的10GbE,8G光纤通道和8.5 Gb / s,10.51和11.3 Gb / s的10G光纤通道应用。80C12还提供9.95、10.66和10.70 Gb / s的电信速率测试。通过放大的O / E设计,该模块具有出色的信噪比性能和高光学灵敏度,允许用户检查低功率电平的光学信号。80C12的时钟恢复通过80A05模块或CR125A仪器(单独出售)提供。

80C11 30 GHz长波多速率10 Gb / s光模块

80C11经过优化,可通过高度灵活的多速率滤波器以10 Gb / s的速率测试长波长信号(1100至1650 nm)。此外,30 GHz(典型值)的高光学带宽及其全带宽路径的出色频率响应非常适合通用高性能光学组件测试。80C11可以配置有时钟恢复选项,这些选项支持从9.8到12.6 Gb / s的任何标准或用户定义的速率。

80C07B 2.5 GHz宽波长多速率155 Mb / s至2.5 Gb / s光模块

80C07B是一种宽波长(700至1650 nm)多速率光学采样模块,经过优化,可测试155至2500 Mb / s的数据通信/电信信号。凭借其放大的O / E设计,该模块可提供出色的信噪比性能,使用户可以检查低功率光信号。80C07B可以选择配置为多速率时钟恢复,工作频率范围为155至2.7 Mb / s。

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